Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung eines Plasmas in einem Materialbearbeitungssystem
EP1579470
Art A2
28. September 2005
Anmelder: TOKYO ELECTRON LIMITED 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1579470
- Aktenzeichen
- EP03799732
- Anmeldetag
- 25. November 2003
- Veröffentlichung
- 28. September 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/32G06K19/077G06K7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TOKYO ELECTRON LIMITED
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tokyo Electron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Halbleiterfertigungsanlagen. Aktiv in Beschichtungs-, Ätz- und Reinigungssystemen für die Chip- und Displayproduktion.
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Vertreten von
-
Hoffmann Eitle
Hoffmann Eitle · München