Methode zur Bestimmung der Aberration eines Projektionssystems eines Lithographieapparats
EP1580605
Art B1
2. Mai 2007
Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1580605
- Aktenzeichen
- EP05251792
- Anmeldetag
- 23. März 2005
- Veröffentlichung
- 2. Mai 2007
- Erteilung
- 2. Mai 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G03F7/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML Netherlands B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
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Leeming, John Gerard
London, Großbritannien
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