Halbleitertestsystem mit Speicherung von Pin-Kalibrierungsdaten, Kommandos und Anderen Daten im Nichtflüchtigen Speicher
EP1581870
Art A2
5. Oktober 2005
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1581870
- Aktenzeichen
- EP04701079
- Anmeldetag
- 9. Januar 2004
- Veröffentlichung
- 5. Oktober 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F11/14G06F11/07
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
1.227 Patente in unserer Datenbank