Verfahren zur Erkennung eines Defekten Pixels

EP1583946 Art B1 8. November 2006

Anmelder: MICRONIC LASER SYSTEMS AB, Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. 🇸🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1583946
Aktenzeichen: EP04702111
Anmeldetag: 14. Januar 2004
Veröffentlichung: 8. November 2006
Erteilung: 8. November 2006
Rechtsraum: EP
IPC: G01M11/00G02B26/08

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: MICRONIC LASER SYSTEMS AB
Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
Land: 🇸🇪 Schweden

🇩🇪 Fraunhofer-Gesellschaft

Deutsche gemeinnützige Forschungsorganisation mit Sitz in München. Betreibt anwendungsorientierte Forschung in Technik und Naturwissenschaften über zahlreiche Institute für Industrie und Gesellschaft.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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