Sonde für ein Optisches Nahfeldmikroskop mit Verbesserter Streulichtunterdrückung und Verfahren zu deren Herstellung
EP1588382
Art B1
14. Februar 2007
Anmelder: Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1588382
- Aktenzeichen
- EP03785886
- Anmeldetag
- 18. Dezember 2003
- Veröffentlichung
- 14. Februar 2007
- Erteilung
- 14. Februar 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G12B21/06G12B21/02B81B3/00B81B1/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Fraunhofer-Gesellschaft
Deutsche gemeinnützige Forschungsorganisation mit Sitz in München. Betreibt anwendungsorientierte Forschung in Technik und Naturwissenschaften über zahlreiche Institute für Industrie und Gesellschaft.
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