Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen Integrierter Schaltungen
EP1592975
Art B1
26. März 2008
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1592975
- Aktenzeichen
- EP04711445
- Anmeldetag
- 16. Februar 2004
- Veröffentlichung
- 26. März 2008
- Erteilung
- 26. März 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/319
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
Vertreten von
Bergmann, Jürgen
Berlin, Deutschland
32
Patente gesamt
17
Fachgebiete
7
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Schwerpunkte