Verfahren und Struktur zur Entwicklung eines Testprogramms für Integrierte Halbleiterschaltungen

EP1592976 Art B1 16. Januar 2008

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1592976
Aktenzeichen
EP04711471
Anmeldetag
16. Februar 2004
Veröffentlichung
16. Januar 2008
Erteilung
16. Januar 2008
Rechtsraum
EP
IPC
G01R31/319G01R31/3183G06F11/263
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ADVANTEST CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen