Vorrichtung, Verfahren und System zur Analyse mittels Microchips
EP1593968
Art B1
27. Juli 2011
Anmelder: Seiko Instruments Inc., SEIKO INSTRUMENTS INC. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1593968
- Aktenzeichen
- EP05252674
- Anmeldetag
- 28. April 2005
- Veröffentlichung
- 27. Juli 2011
- Erteilung
- 27. Juli 2011
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N35/00B01L3/00B01L9/00G01N33/543
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Seiko Instruments Inc.
SEIKO INSTRUMENTS INC. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Seiko Instruments
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Chiba, tätig in den Bereichen Präzisionsinstrumente, Uhren und elektronische Bauteile.
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Vertreten von
Sturt, Clifford Mark
London, Großbritannien
883
Patente gesamt
28
Fachgebiete
7
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Schwerpunkte