Funktionssteuerbare Prüfnadel zur Messung von Halbleiterwafern und Benutzungsverfahren
EP1596212
Art B1
10. September 2008
Anmelder: Solid State Measurements, Inc., Applied Materials, Inc., APPLIED MATERIALS, INC. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1596212
- Aktenzeichen
- EP05104011
- Anmeldetag
- 13. Mai 2005
- Veröffentlichung
- 10. September 2008
- Erteilung
- 10. September 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/319
Abstract
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Anmelder
- Firmen
- Solid State Measurements, Inc.
Applied Materials, Inc.
APPLIED MATERIALS, INC. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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van Westenbrugge, Andries
Den Haag, Niederlande
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