Abnehmbare Prüfspitze für Abtastsystem
EP1607750
Art B1
8. August 2007
Anmelder: Tektronix Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1607750
- Aktenzeichen
- EP05253120
- Anmeldetag
- 20. Mai 2005
- Veröffentlichung
- 8. August 2007
- Erteilung
- 8. August 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R1/067
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tektronix Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Tektronix, Inc.
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
498 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Burke, Steven David
London, Großbritannien
453
Patente gesamt
25
Fachgebiete
10
Anmelder-Länder
Schwerpunkte