Testeinrichtung und Testverfahren
EP1610135
Art B8
4. März 2009
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1610135
- Aktenzeichen
- EP04723013
- Anmeldetag
- 24. März 2004
- Veröffentlichung
- 4. März 2009
- Erteilung
- 4. März 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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