Reflektiver Phasenfilter für ein Rastermikroskop
EP1615064
Art B1
28. November 2007
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1615064
- Aktenzeichen
- EP05106113
- Anmeldetag
- 6. Juli 2005
- Veröffentlichung
- 28. November 2007
- Erteilung
- 28. November 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/00G02B5/04G02B26/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Microsystems CMS GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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Fachgebiete
Vertreten von
Naumann, Ulrich
Heidelberg, Deutschland
197
Patente gesamt
30
Fachgebiete
7
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Reichert, Werner Franz
NoneWetzlar