Methode und Vorrichtung zum Messen der Reflektivität mittels Röntgenstrahlen
EP1617210
Art B1
18. Februar 2009
Anmelder: Rigaku Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1617210
- Aktenzeichen
- EP05015471
- Anmeldetag
- 15. Juli 2005
- Veröffentlichung
- 18. Februar 2009
- Erteilung
- 18. Februar 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N23/20G01B15/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Rigaku Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Rigaku
Rigaku ist ein japanischer Hersteller wissenschaftlicher Analysegeräte, insbesondere für Röntgendiffraktion und Röntgenfluoreszenz. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik, ergänzt durch Halbleiter- und Elektrotechnik-Anmeldungen. Der Anmeldezeitraum reicht von 2000 bis 2025.
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Vertreten von
Wagner, Karl H
München, Deutschland
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