Mikroskop und Messungsdurchführungsverfahren gegen eine Statische Elektrizitätsentladung bei Mikroskopen
EP1617266
Art A1
18. Januar 2006
Anmelder: Olympus Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1617266
- Aktenzeichen
- EP04799463
- Anmeldetag
- 2. November 2004
- Veröffentlichung
- 18. Januar 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/00C09K3/16
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Olympus Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Olympus
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Olympus ist auf Medizintechnik spezialisiert, insbesondere Endoskopie- und Bildgebungssysteme, sowie auf wissenschaftliche Instrumente und Präzisionsoptik.
8.021 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
von Hellfeld, Axel
München, Deutschland
2.759
Patente gesamt
32
Fachgebiete
18
Anmelder-Länder
Schwerpunkte