Inspektionsverfahren mit Betrachtung von Aussen, dafür Verwendete Mustervorlage sowie die Mustervorlage Aufweisende Inspektionsvorrichtung mit Betrachtung von Aussen

EP1626270 Art A1 15. Februar 2006

Anmelder: Kabushiki Kaisha TOPCON 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1626270
Aktenzeichen: EP04733426
Anmeldetag: 17. Mai 2004
Veröffentlichung: 15. Februar 2006
Rechtsraum: EP
IPC: G01N21/956H01L21/66G06T7/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Kabushiki Kaisha TOPCON
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Kabushiki Kaisha Topcon

Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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