Probenuntersuchungseinrichtung und Verfahren und Bauelementeherstellungsverfahren mit der Probenuntersuchungseinrichtung und dem Verfahren

EP1630862 Art B1 13. Januar 2016

Anmelder: EBARA CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1630862
Aktenzeichen: EP04745387
Anmeldetag: 28. Mai 2004
Veröffentlichung: 13. Januar 2016
Erteilung: 13. Januar 2016
Rechtsraum: EP
IPC: H01J37/29H01L21/66H01J37/304G06T7/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: EBARA CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Ebara

Japanischer Hersteller von Pumpen, Kompressoren und Umwelttechnik mit Sitz in Tokio, gegründet 1912.

1.514 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Software & Datenverarbeitung

Vertreten von

Geyer, Ulrich F München, Deutschland

481

Patente gesamt

29

Fachgebiete

4

Anmelder-Länder

Schwerpunkte

Akustik, Musik & Datenspeicherung Nachrichtentechnik & Telekommunikation Halbleiter & Elektrische Bauelemente Software & Datenverarbeitung Textiltechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik

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