Verfahren und Vorrichtung zur Detektion von Spannungsschwankungen auf einem Halbleiterträger
EP1631890
Art A2
8. März 2006
Anmelder: Intel Corporation, INTEL CORPORATION 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1631890
- Aktenzeichen
- EP04708977
- Anmeldetag
- 6. Februar 2004
- Veröffentlichung
- 8. März 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F1/10
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Intel Corporation
INTEL CORPORATION - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Intel
US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kalifornien. Entwickelt und produziert Prozessoren, Chipsätze sowie weitere Halbleiterkomponenten für Computer, Server und eingebettete Systeme.
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Dunlop, Hugh Christopher
Basingstoke, Großbritannien
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