Mustergenerator und Testeinrichtung

EP1640735 Art B1 30. Januar 2008

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1640735
Aktenzeichen
EP04734342
Anmeldetag
21. Mai 2004
Veröffentlichung
30. Januar 2008
Erteilung
30. Januar 2008
Rechtsraum
EP
IPC
G01R31/28
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ADVANTEST CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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