Verfahren und Vorrichtung zum Entwerfen und Herstellen von elektronischen Schaltungen abhängig von Leckstromproblemen verursacht durch Temperaturveränderungen und/oder Alterung
EP1640886
Art A1
29. März 2006
Anmelder: IMEC, Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum 🇧🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1640886
- Aktenzeichen
- EP05020770
- Anmeldetag
- 23. September 2005
- Veröffentlichung
- 29. März 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F17/50
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- IMEC
Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum - Land
- 🇧🇪 Belgien
🇧🇪
imec
Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.
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Bird, William Edward
Heverlee, Belgien
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