Signalmustererkennung und Bitniveaumessungen an sich wiederholenden Signalmustern
EP1643258
Art B1
16. Dezember 2009
Anmelder: Tektronix, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1643258
- Aktenzeichen
- EP05255893
- Anmeldetag
- 22. September 2005
- Veröffentlichung
- 16. Dezember 2009
- Erteilung
- 16. Dezember 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/317
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tektronix, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Tektronix, Inc.
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
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Fachgebiete
Vertreten von
Burke, Steven David
London, Großbritannien
453
Patente gesamt
25
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10
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Schwerpunkte