Ätzung von Strukturen mit hoher Topographie
EP1646080
Art B1
24. September 2014
Anmelder: IMEC, INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM ( IMEC) 🇧🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1646080
- Aktenzeichen
- EP05447052
- Anmeldetag
- 9. März 2005
- Veröffentlichung
- 24. September 2014
- Erteilung
- 24. September 2014
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/321H01L21/336
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- IMEC
INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM ( IMEC) - Land
- 🇧🇪 Belgien
🇧🇪
imec
Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.
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Vertreten von
Van Malderen, Joëlle
Liège, Belgien
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