Vorrichtung zum Prüfen oder Kalibrieren der Winkelabhängigen Ausrichtung eines Hochpräzisen Prüflings

EP1649249 Art B1 24. Oktober 2012

Anmelder: Leica Geosystems AG 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1649249
Aktenzeichen: EP04763440
Anmeldetag: 23. Juli 2004
Veröffentlichung: 24. Oktober 2012
Erteilung: 24. Oktober 2012
Rechtsraum: EP
IPC: G01C25/00G01C1/02

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Leica Geosystems AG
Land: 🇨🇭 Schweiz

🇨🇭 Leica Geosystems

Schweizer Hersteller von Vermessungs- und Geoinformationstechnik, entwickelt Instrumente und Software für Landvermessung, Bauwesen und geografische Datenerfassung.

612 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von