Verfahren zur Messung Physikalischer Parameter mindestens einer Phase mit Abmessungen im Mikrometer- oder Nanometerbereich in einem Verbundsystem
EP1649269
Art A2
26. April 2006
Anmelder: COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE 🇫🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1649269
- Aktenzeichen
- EP04767701
- Anmeldetag
- 16. Juli 2004
- Veröffentlichung
- 26. April 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N23/20G01N23/22H01J37/295
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE
- Land
- 🇫🇷 Frankreich
🇫🇷
CEA (Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives)
Französisches staatliches Forschungsinstitut mit Sitz in Paris (Verwaltung) und Standorten wie Grenoble und Saclay. Forscht in Kernenergie, erneuerbaren Energien, Mikroelektronik, Werkstoffwissenschaften, Verteidigungstechnik und Informationstechnologien.
5.929 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Jacquard, Philippe Jean-Luc
Paris, Frankreich
180
Patente gesamt
30
Fachgebiete
7
Anmelder-Länder
Schwerpunkte