Untersuchungsverfahren und Untersuchungseinrichtung für ein Optisches Projektionssystem und Herstellungsverfahren für ein Optisches Projektionssystem
EP1650787
Art A1
26. April 2006
Anmelder: Nikon Corporation, NIKON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1650787
- Aktenzeichen
- EP04748072
- Anmeldetag
- 23. Juli 2004
- Veröffentlichung
- 26. April 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/027G03F7/20G01M11/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Nikon Corporation
NIKON CORPORATION - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Nikon
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.
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Vertreten von
-
Hoffmann Eitle
Hoffmann Eitle · München