Verbesserter Prozess für Phasenabgeleitete Entfernungsmessungen
EP1651978
Art B1
12. September 2007
Anmelder: RAYTHEON COMPANY 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1651978
- Aktenzeichen
- EP04776598
- Anmeldetag
- 14. Juni 2004
- Veröffentlichung
- 12. September 2007
- Erteilung
- 12. September 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01S13/58G01S13/66G01S7/41
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- RAYTHEON COMPANY
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Raytheon Company
US-amerikanisches Rüstungs- und Technologieunternehmen mit Sitz in Massachusetts, heute Teil von RTX Corporation. Entwickelt Verteidigungssysteme, Radartechnik, Flugabwehr, Sensorik und Luftfahrtelektronik.
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Fachgebiete
Vertreten von
Jackson, David Spence
London, Großbritannien
226
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25
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9
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