Verfahren und System zur Ger Teunabh Ngigen Bestimmung von Koordinaten eines mittels eines Mikroskops Abgebildeten Punktes
EP1658521
Art A1
24. Mai 2006
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1658521
- Aktenzeichen
- EP04763791
- Anmeldetag
- 4. August 2004
- Veröffentlichung
- 24. Mai 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Microsystems CMS GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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