Verfahren zur zweidimensionalen Quantisierung für das Abtasten der Strahlrichtung einer Antennengruppe
EP1659658
Art B1
20. Februar 2008
Anmelder: RAYTHEON COMPANY 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1659658
- Aktenzeichen
- EP05256962
- Anmeldetag
- 10. November 2005
- Veröffentlichung
- 20. Februar 2008
- Erteilung
- 20. Februar 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01Q3/38
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- RAYTHEON COMPANY
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Raytheon Company
US-amerikanisches Rüstungs- und Technologieunternehmen mit Sitz in Massachusetts, heute Teil von RTX Corporation. Entwickelt Verteidigungssysteme, Radartechnik, Flugabwehr, Sensorik und Luftfahrtelektronik.
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Vertreten von
Lawrence, John
Birmingham, Großbritannien
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