Verfahren und System zur Diagnostizierung eines Verarbeitungssystems unter Verwendung einer Adaptiven Mehrvariablen-Analyse
EP1665076
Art A2
7. Juni 2006
Anmelder: TOKYO ELECTRON LIMITED 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1665076
- Aktenzeichen
- EP04809545
- Anmeldetag
- 27. August 2004
- Veröffentlichung
- 7. Juni 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G05B23/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TOKYO ELECTRON LIMITED
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tokyo Electron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Halbleiterfertigungsanlagen. Aktiv in Beschichtungs-, Ätz- und Reinigungssystemen für die Chip- und Displayproduktion.
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Fachgebiete
Vertreten von
-
Hoffmann Eitle
Hoffmann Eitle · München