Testvorrichtung

EP1666898 Art B1 21. November 2007

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1666898
Aktenzeichen
EP04772609
Anmeldetag
1. September 2004
Veröffentlichung
21. November 2007
Erteilung
21. November 2007
Rechtsraum
EP
IPC
G01R31/319
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ADVANTEST CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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