Verfahren zur Bestimmung der Verteilung der lokalen Strahlungsintensität in einem semitransparenten Medium
EP1667069
Art A1
7. Juni 2006
Anmelder: Schott AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1667069
- Aktenzeichen
- EP05000682
- Anmeldetag
- 14. Januar 2005
- Veröffentlichung
- 7. Juni 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06T15/40G01J5/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Schott AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
SCHOTT
Deutsches Technologieunternehmen mit Sitz in Mainz, spezialisiert auf Spezialglas und Glaskeramik für Pharma-, Optik-, Elektronik- und Haushaltsanwendungen.
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Vertreten von
Herden, Andreas F
Wiesbaden, Deutschland
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