Röntgendiffraktionsmikroskop sowie Röntgendiffraktionsmessverfahren unter Verwendung des Röntgendiffraktionsmikroskops
EP1672361
Art B1
1. Juni 2016
Anmelder: National Institute for Materials Science 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1672361
- Aktenzeichen
- EP04773156
- Anmeldetag
- 9. September 2004
- Veröffentlichung
- 1. Juni 2016
- Erteilung
- 1. Juni 2016
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N23/207G21K7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- National Institute for Materials Science
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
National Institute for Materials Science
Japanisches staatliches Forschungsinstitut mit Sitz in Tsukuba, das auf Materialwissenschaft und Werkstoffforschung spezialisiert ist.
828 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Calamita, Roberto
London, Großbritannien
317
Patente gesamt
25
Fachgebiete
5
Anmelder-Länder
Schwerpunkte