Testprogramm-Debug-Einrichtung, Halbleiter-Testeinrichtung, Testprogramm-Debug-Verfahren und Testverfahren
EP1672508
Art A1
21. Juni 2006
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1672508
- Aktenzeichen
- EP04792070
- Anmeldetag
- 5. Oktober 2004
- Veröffentlichung
- 21. Juni 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F11/22G01R31/319
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
1.227 Patente in unserer Datenbank