Verfahren zum Prüfen oder Kalibrieren der Winkelabhängigen Ausrichtung eines Hochpräzisen Prüflings

EP1678468 Art B1 24. September 2014

Anmelder: Leica Geosystems AG 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1678468
Aktenzeichen
EP04763441
Anmeldetag
23. Juli 2004
Veröffentlichung
24. September 2014
Erteilung
24. September 2014
Rechtsraum
EP
IPC
G01C1/02G01C25/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Leica Geosystems AG
Land
🇨🇭 Schweiz
🇨🇭 Leica Geosystems

Schweizer Hersteller von Vermessungs- und Geoinformationstechnik, entwickelt Instrumente und Software für Landvermessung, Bauwesen und geografische Datenerfassung.

612 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen