Verfahren zur Probenuntersuchung und Mikroskop mit Evaneszenter Probenbeleuchtung
EP1678544
Art A1
12. Juli 2006
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH, Leica Microsystems Heidelberg GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1678544
- Aktenzeichen
- EP04787190
- Anmeldetag
- 22. September 2004
- Veröffentlichung
- 12. Juli 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/00G02B21/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Leica Microsystems CMS GmbH
Leica Microsystems Heidelberg GmbH - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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Fachgebiete
Vertreten von
Grunert, Marcus
München, Deutschland
126
Patente gesamt
28
Fachgebiete
8
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
- (deleted)
-
Naumann, Ulrich
NoneHeidelberg
-
Stamer, Harald
NoneWetzlar