Vorrichtung zur Überprüfung einer Leiterplatte, Verfahren zur Einstellung der Überprüfungslogik und Vorrichtung zur Einstellung der Überprüfungslogik
EP1679520
Art A1
12. Juli 2006
Anmelder: OMRON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1679520
- Aktenzeichen
- EP06100242
- Anmeldetag
- 11. Januar 2006
- Veröffentlichung
- 12. Juli 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/04G01N21/956
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- OMRON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Omron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.
6.706 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Giovannini, Francesca
Paris, Frankreich
673
Patente gesamt
33
Fachgebiete
19
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Schwerpunkte
Weitere Vertreter
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Brykman, Georges
NoneParis
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Weihs, Bruno Konrad
André Roland SA · Lausanne