Optisches Metrologieverfahren, mit dem die Dreidimensionale Topographie eines Lochs Bestimmt Wird
EP1686348
Art A1
2. August 2006
Anmelder: Universitat Politècnica De Catalunya, Universitat Politecnica de Catalunya 🇪🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1686348
- Aktenzeichen
- EP04766974
- Anmeldetag
- 8. Oktober 2004
- Veröffentlichung
- 2. August 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/12G01B11/25G01N21/954
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Universitat Politècnica De Catalunya
Universitat Politecnica de Catalunya - Land
- 🇪🇸 Spanien
🇪🇸
Universitat Politècnica de Catalunya
Die Universitat Politècnica de Catalunya ist eine technische Universität in Barcelona, Spanien, mit breitem ingenieurwissenschaftlichem Fokus. Das Patentportfolio aus der universitären Forschung verteilt sich auf Medizintechnik, Mess- und Prüftechnik, Software sowie Verfahrens- und Werkstofftechnik. Anmeldungen laufen durchgehend seit 2000.
367 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Morgades y Manonelles, Juan Antonio
Barcelona, Spanien
238
Patente gesamt
29
Fachgebiete
10
Anmelder-Länder
Schwerpunkte