Vorrichtung und Verfahren zur Dünnfilmüberprüfung
EP1688704
Art A1
9. August 2006
Anmelder: OMRON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1688704
- Aktenzeichen
- EP06001473
- Anmeldetag
- 24. Januar 2006
- Veröffentlichung
- 9. August 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- OMRON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Omron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.
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Vertreten von
Kilian, Helmut
München, Deutschland
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