Vorrichtung zum Prüfen einer Einrichtung mit einem Hochfrequenzsignal

EP1692526 Art B1 26. September 2007

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1692526
Aktenzeichen
EP04819488
Anmeldetag
26. November 2004
Veröffentlichung
26. September 2007
Erteilung
26. September 2007
Rechtsraum
EP
IPC
G01R1/04G01R31/28G01R1/073
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ADVANTEST CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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