Verfahren zur Herstellung einer Speicherstruktur unter Verwendung einer Modifizierten Oberflächentopographie und Struktur davon

EP1714314 Art A2 25. Oktober 2006

Anmelder: Freescale Semiconductor Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1714314
Aktenzeichen
EP04815294
Anmeldetag
21. Dezember 2004
Veröffentlichung
25. Oktober 2006
Rechtsraum
EP
IPC
H01L21/336H01L29/423
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Freescale Semiconductor Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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