Instrument zur Messung von Oberflächenrauheit/Konturprofil
EP1717545
Art A1
2. November 2006
Anmelder: TOKYO SEIMITSU CO., LTD. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1717545
- Aktenzeichen
- EP06112042
- Anmeldetag
- 30. März 2006
- Veröffentlichung
- 2. November 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B5/28G01B21/30
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TOKYO SEIMITSU CO., LTD.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tokyo Seimitsu
Tokyo Seimitsu ist ein japanischer Hersteller von Mess- und Fertigungsgeräten für die Halbleiterindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiterbauelemente sowie Mess- und Prüftechnik, ergänzt durch Werkzeug- und Fertigungstechnik. Die Titel betreffen vor allem Bearbeitungsverfahren und -vorrichtungen für die Wafer- und Chipherstellung.
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Fachgebiete
Vertreten von
Skone James, Robert Edmund
London, Großbritannien
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