Kontakt-Pin, Sondenkarten damit und Testvorrichtung für Elektronische Einrichtungen

EP1717590 Art A1 2. November 2006

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1717590
Aktenzeichen
EP04816691
Anmeldetag
14. Dezember 2004
Veröffentlichung
2. November 2006
Rechtsraum
EP
IPC
G01R1/067G01R1/073H01L21/66
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ADVANTEST CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

1.227 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Wiebusch, Manfred Bielefeld, Deutschland
247
Patente gesamt
28
Fachgebiete
10
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Optik & Fototechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente Maschinenelemente & Fluidtechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Hochbau & Gebäudetechnik
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