Verfahren zur Herstellung vollsilicidierter Dual-Gates und mit diesem Verfahren erhältliche Halbleiterbauelemente
EP1724818
Art A3
26. Dezember 2007
Anmelder: IMEC, Texas Instruments Incorporated, TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED, INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM ( IMEC) 🇧🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1724818
- Aktenzeichen
- EP06114050
- Anmeldetag
- 16. Mai 2006
- Veröffentlichung
- 26. Dezember 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/28H01L29/49H01L21/8234H01L21/8238
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- IMEC
Texas Instruments Incorporated
TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED
INTERUNIVERSITAIR MICROELEKTRONICA CENTRUM ( IMEC) - Land
- 🇧🇪 Belgien
🇺🇸
Texas Instruments
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.
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