Halbleiterprüfgerät und Schnittstellenplatine

EP1729140 Art A3 8. Juni 2011

Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1729140
Aktenzeichen
EP06090093
Anmeldetag
30. Mai 2006
Veröffentlichung
8. Juni 2011
Rechtsraum
EP
IPC
G06F11/273G01R31/28G01R31/317G01R31/319
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
ADVANTEST CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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