Mikrostruktur, Cantilever, Rastersondenmikroskop und Verfahren zur Messung der Deformationsquantität für die Mikrostruktur
EP1731895
Art A3
25. April 2007
Anmelder: TDK Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1731895
- Aktenzeichen
- EP06011705
- Anmeldetag
- 7. Juni 2006
- Veröffentlichung
- 25. April 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N13/16G12B21/08G12B21/02G01P15/08G01R33/09H01L45/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- TDK Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
TDK Corporation
TDK Corporation ist ein japanischer Hersteller elektronischer Bauteile, bekannt für Kondensatoren, Sensoren, Batterien und Magnetwerkstoffe.
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Kanzlei
Bureau M.F.J. Bockstael N.V.
Antwerpen, Belgien
1937 in Antwerpen gegründet, eine der ältesten belgischen IP-Kanzleien, seit 2023 zur Investmentgruppe Robur Capital gehörend. Fusionierte 2026 mit der Leuvener Kanzlei IPLodge zu Oryon, mit Sitz in Antwerpen und Leuven, unter dem Leitspruch „Clarity. Strategy. IP.“
1.158
Patente gesamt
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