Verfahren zur Bestimmung der Beschädigung und zur Herstellung eines Verbindungshalbleiterelements

EP1734357 Art A3 30. November 2011

Anmelder: Sumitomo Electric Industries, Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1734357
Aktenzeichen: EP06009656
Anmeldetag: 10. Mai 2006
Veröffentlichung: 30. November 2011
Rechtsraum: EP
IPC: G01N21/21

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Sumitomo Electric Industries, Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Sumitomo Electric Industries

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Osaka, Teil der Sumitomo-Gruppe. Aktiv in Kabel- und Glasfasertechnologie, Halbleitern, Automobilkomponenten sowie Elektronik- und Werkstofftechnik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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