Verfahren zum Testen eines Wafers, insbesondere Hall-Magnetfeld-Sensors und Wafer bzw. Hallsensor
EP1734374
Art A1
20. Dezember 2006
Anmelder: Micronas GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1734374
- Aktenzeichen
- EP06012388
- Anmeldetag
- 16. Juni 2006
- Veröffentlichung
- 20. Dezember 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Micronas GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Micronas
Micronas war ein deutsch-schweizerisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Freiburg, das inzwischen zu TDK gehört. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Nachrichtentechnik und Halbleitertechnik. Die Anmeldungen stammen aus den Jahren 2000 bis 2016.
399 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Göhring, Robert
Villingen-Schwenningen, Deutschland
164
Patente gesamt
23
Fachgebiete
6
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Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH
Koch Müller Patentanwaltsgesellschaft mbH · Heidelberg