Vorrichtung zur Überprüfung von Leiterplatten, Verfahren zur Parametereinstellung und Vorrichtung zur Parametereinstellung
EP1736758
Art B1
13. Januar 2010
Anmelder: OMRON CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1736758
- Aktenzeichen
- EP06115773
- Anmeldetag
- 21. Juni 2006
- Veröffentlichung
- 13. Januar 2010
- Erteilung
- 13. Januar 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/956G06T7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- OMRON CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Omron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.
6.706 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Giovannini, Francesca
Paris, Frankreich
673
Patente gesamt
33
Fachgebiete
19
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Brykman, Georges
NoneParis
-
Weihs, Bruno Konrad
André Roland SA · Lausanne