Optisches Profilometer mit Dualer Technologie (konfokal und Interferrometrisch) zur Untersuchung und Dreidimensionalen Messung von Oberflächen
EP1739471
Art B1
5. September 2007
Anmelder: Universitat Politècnica De Catalunya, Universitat Politecnica de Catalunya 🇪🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1739471
- Aktenzeichen
- EP05739544
- Anmeldetag
- 20. April 2005
- Veröffentlichung
- 5. September 2007
- Erteilung
- 5. September 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/00G01B9/04A61B3/12G01N21/47
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Universitat Politècnica De Catalunya
Universitat Politecnica de Catalunya - Land
- 🇪🇸 Spanien
🇪🇸
Universitat Politècnica de Catalunya
Die Universitat Politècnica de Catalunya ist eine technische Universität in Barcelona, Spanien, mit breitem ingenieurwissenschaftlichem Fokus. Das Patentportfolio aus der universitären Forschung verteilt sich auf Medizintechnik, Mess- und Prüftechnik, Software sowie Verfahrens- und Werkstofftechnik. Anmeldungen laufen durchgehend seit 2000.
367 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Morgades y Manonelles, Juan Antonio
Barcelona, Spanien
238
Patente gesamt
29
Fachgebiete
10
Anmelder-Länder
Schwerpunkte