Messung Dünner Filmdicken unter Verwendung eines Mehrkanal-Infrarotsensors
EP1740904
Art B1
24. Oktober 2007
Anmelder: Honeywell International Inc., Honeywell International, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1740904
- Aktenzeichen
- EP05740132
- Anmeldetag
- 22. April 2005
- Veröffentlichung
- 24. Oktober 2007
- Erteilung
- 24. Oktober 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Honeywell International Inc.
Honeywell International, Inc. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Honeywell
US-amerikanischer Mischkonzern mit Schwerpunkten in Luft- und Raumfahrttechnik, Automatisierungslösungen, Gebäudetechnik sowie Spezialchemikalien und -materialien für Industrie- und Verteidigungskunden.
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Haley, Stephen
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