Standardmaterial für ein Teilchenanalysegerät
EP1744145
Art B1
9. September 2015
Anmelder: SYSMEX CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1744145
- Aktenzeichen
- EP06447087
- Anmeldetag
- 6. Juli 2006
- Veröffentlichung
- 9. September 2015
- Erteilung
- 9. September 2015
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N15/10
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- SYSMEX CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Sysmex
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Kobe, spezialisiert auf Entwicklung und Herstellung von Labordiagnostik- und Analysegeräten, insbesondere für Hämatologie und klinische Chemie.
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Fachgebiete
Vertreten von
De Clercq, Ann G. Y
Sint-Martens-Latem, Belgien
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